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  • d33 壓電系數測試儀

    d33 壓電系數測試儀,其分辨率可達0.01pC/N,采用多種測量模式,在測量壓電系數的同時,可記錄d31, d15, 電容、電量、tan δ等參數,并也可計算g33、介電常數和εT33等??捎糜阼F電、壓電材料以及相關器件性能的評價與測試;

    更新時間:2024-07-04

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  • 電容充放電測試儀

    電容充放電測試儀,詳細說明:目前常規電滯回線測試設備在高壓下測量電容能量密度存在的問題:待測樣品上的電荷被放回到高壓電源,而不是一個有效有意義的負載。

    更新時間:2024-07-04

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  • 高壓漏電流及熱釋電測量系統

    高壓漏電流及熱釋電測量系統,詳細說明:美國Polyk Technologies公司研發了高壓漏電流和熱釋電測量系統,對于研發高能量密度和功率介電材料很有幫助!

    更新時間:2024-07-04

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  • 電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統

    電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統基于改進優化的動態Sawyer-Tower電路開發的該系統,用于測量介電和鐵電材料的電荷密度與電場及頻率的關系;

    更新時間:2024-07-04

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  • 低溫寬頻介電測量系統

    低溫寬頻介電測量系統當通過LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數時,加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場具有非線性響應;通常它們的介電常數和損耗因子在高壓下變得更低。

    更新時間:2024-07-04

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